Publikacja zawiera materiały na IX Krajową Konferencję z cyklu ?Diagnostyka Edukacyjna?, Łódź, wrzesień 2003 roku.W części teoretycznej zamieszczone są teksty przekazujące nową wiedzę o problematyce pomiaru,porządkującą pojęcia oraz dające przykłady modeli i metod badawczych. W części szczegółowej materiały koncentrują się wokół zagadnień trafności egzaminowania, motywacji ucznia i etyki egzaminatora.
Informacje dodatkowe o Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych:
Wydawnictwo: brak danych
Data wydania: b.d
Kategoria: Edukacyjne
ISBN:
838781492X
Liczba stron: 396
Sprawdzam ceny dla ciebie ...
Chcę przeczytać,