Ocena błędu pojedynczego pomiaruWielkości charakteryzujące serię pomiarów obarczonych błędami przypadkowymiHistogramy i rozkłady, zmienna losowaRozkład Gaussa i jego zastosowaniaRozkład dwumianowyPrzedstawianie danych i graficzna analiza wynikówOcena błędu maksymalnego oraz niepewności, gdy błędy przypadkowe i systematyczne są porównywalneCentralne twierdzenie graficzne
Informacje dodatkowe o Podstawy metod opracowania pomiarów:
Wydawnictwo: Wydawnictwo Uniwersytetu Mikołaja Kopernika
Data wydania: b.d
Kategoria: Edukacyjne
ISBN:
8323113114
Liczba stron: 247
Sprawdzam ceny dla ciebie ...
Chcę przeczytać,